16760 - Agar Scientific Venezuela  ventas

S1987

REM resolución máxima TestObject a bandeja de muestras de 12,5 mm pin

S1968

Espinoso Oro TestObject en bandeja de muestras pin 12,5mm

S1988

SEM de alta resolución TestObject Sn / C a 12,5 mm bandeja de muestras

S1969VT

Resolución de prueba de objetos de oro más de C 3-50nm, 7mmx7mmx130, C-sustrato.

S1987VT

Resolución de prueba de objetos de oro más de C 2-30nm, 7mmx7mmx130, C-sustrato.

S1967VT

Estaño en el objeto de prueba de carbono, 10-100nm, 7mmx7mmx130, C-Subs.

S1937VT

estaño Universal de 5-30nm carbón, 7mmx7mmx130, C-substr

S1808

Muestra de Ensayo

S1809

Muestra de Ensayo

S1950

Ni / Cu EEB Referenzobject

S1952

Pt / Au EEB Referenzobject

S1954

Al / Si BSE Referenzobjekt

S1957

CSF PLANOTEC y análisis -Kalibrierkit partícula

G304-16083

pegatinas adhesivas conductoras

S20680-A

Ausome nanopartículas de oro 38nm, 8 mm de pin muestra estante L =)

S20681-A

Ausome alta resolución 27,3nm objeto de prueba en 12,5mm de suministro tipo pluma

15310-12

titular Multi-muestra para bandeja de muestras 12 pin

15310-29

sostenedor multi-muestra para bandeja de muestras de 29 espigas

S1967

Estaño en objeto de prueba -hullas a 12,5 mm -Stiftprobenteller

(S1866) 641-1A

El estándar de referencia 70 nm Pitch montado en la placa de muestra de pin

(S1868) 643-1A

objeto de prueba Longitud con periodo de 300 nm a la clavija placa de muestras

S1914

Acabado universal soporte de 25 mm de diámetro. jaula 45 Normas + Faraday

S1920

Biología - terminado - soporte con 18 estándares, 25 mm diam.

S1916

titular Finalizar para semiconductores 21 estándares, 25 mm diam.

(S1823) S1957

PLANOTEC GSR - y el análisis Praktikal, kit de calibración

T5008

placa de muestra - pinzas para 9,5 mm a 19 mm

T5315

Placa de la muestra - pinzas para 6,5 ​​mm a 9,5 mm

T5316

Placa de la muestra - pinzas para 3,2 mm a 4,7 mm

(T5017) 1661

Short de mango SEM Pinza de 90 mm L